激光粒度分析儀是一種性能優(yōu)良的粒度分布儀，它采用進(jìn)口的半導(dǎo)體激光器，功率大、壽命長(zhǎng)、單色性好；采用專門設(shè)計(jì)的由大規(guī)模集成電路工藝制造的大尺寸高靈敏度光電探測(cè)器陣列；采用蠕動(dòng)循環(huán)泵和微量樣品池兩種進(jìn)樣方式；采用全程米氏理論和多種分布模型的數(shù)據(jù)處理方式；采用高精度的數(shù)據(jù)傳輸與處理電路等一系列先進(jìn)的技術(shù)和制造工藝，使該儀器具有準(zhǔn)確可靠、測(cè)試速度快、重復(fù)性好、操作簡(jiǎn)便等突出特點(diǎn)，是集激光技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)、光電子技術(shù)于一體的新一代粒度測(cè)試儀器。

    激光粒度分析儀測(cè)試時(shí)遮光比的選取問題：

    遮光比就是在使用激光粒度儀測(cè)試樣品時(shí)，配置的樣品懸浮液的濃度，遮光比的正確選擇是激光粒度儀在粒度測(cè)試過程中的一個(gè)重要的步驟，遮光比是否合適或者說被測(cè)樣品的濃度是否合適嚴(yán)重關(guān)系到粒度測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和代表性。

    激光粒度分析儀的測(cè)量原理要求在測(cè)試過程中，樣品的濃度以樣品中顆粒之間相互不發(fā)生二次散射為原則，理論上就是要求懸浮液或者空氣中顆粒之間的距離為顆粒直徑的3倍,但是這個(gè)要求非常難以掌握，因此在實(shí)際的粒度測(cè)試中，通過調(diào)整遮光比的數(shù)值來(lái)盡量保證顆粒之間不發(fā)生二次散射。遮光比不宜過大（超過50%）或者過?。ǖ陀?%），遮光比過大時(shí)，顆粒的濃度過高，容易發(fā)生二次散射，測(cè)量結(jié)果誤差增大；遮光比過低，樣品中顆粒的濃度太低，顆粒數(shù)太少，測(cè)試結(jié)果的代表性很差，甚至可能導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果是無(wú)效的，因此在測(cè)試過程中，對(duì)遮光比的選取要通過反復(fù)試驗(yàn)，以得到正確的測(cè)量結(jié)果。

    一般來(lái)說，對(duì)于比較粗的樣品，遮光比可以選擇的比較高，如20~30%，正常情況可以為10~25%；對(duì)于超細(xì)的樣品，可以適當(dāng)降低樣品的遮光比，但一般不要超過40%，這些都是實(shí)驗(yàn)得到的經(jīng)驗(yàn)數(shù)值，但zui終還需通過反復(fù)實(shí)驗(yàn)，找到對(duì)應(yīng)樣品測(cè)試時(shí)遮光比的*數(shù)值。