導致納米激光粒度儀鏡頭和測試窗口玻璃污染：光學儀器的鏡頭污染是常見故障。激光粒度儀作為粉體檢測設備，常常會面對多塵環(huán)境，測試窗口鏡片則是會直接接觸粉體樣品的光學器件。聚焦透鏡或者準直透鏡等光學鏡片受到使用環(huán)境中的浮塵污染或者發(fā)生霉菌污染，會使純凈的測量光束產生雜散光。這些雜散光會混入樣品的散射光中干擾測試；測量窗口鏡片上的污染物則會直接產生較強的散射光。因此，光學鏡片污染是激光粒度儀測試結果漂移的首要元兇。應對辦法主要是盡量讓儀器處于干燥無塵的工作環(huán)境。經常按照操作規(guī)程清洗鏡片，保證光學鏡片的清潔。
激光光路偏移：激光器是會發(fā)熱的器件，工作周期內，它們會周而復始的發(fā)熱-降溫-發(fā)熱。任何物體都會有熱脹冷縮現象，幾何尺寸會隨溫度變化而變化。而激光粒度儀光路裝配精度要求非常高，隨著儀器使用周期延長，光路幾乎不可避免的會出現偏移現象。光路偏移，會導致測量光束光能衰減、探測器排布角度發(fā)生漂移，從而導致測量數據漂移。應對這個問題主要靠儀器制造商從儀器設計上盡量減少出現光路偏移的可能性，同時定期校準光路也是非常重要的辦法。
進樣系統的循環(huán)、分散效能波動這個環(huán)節(jié)導致的數據漂移比較隱蔽，所以容易被忽視。樣品循環(huán)系統使用的介質特性、介質流速（干法儀器而言則是氣壓和氣流量）、超聲分散設備的工況、水泵轉速這幾個要點會明顯影響測試數據，需要細心關注。
光電探測器及其放大電路參數漂移：這類問題應該屬于儀器制造質量水平問題，，一般來說任何電子電路和光電探測器都有工況漂移問題，差別只是漂移量不同。這類問題通常儀器用戶自己是無法解決的，需要儀器制造商對儀器進行專門的電路工況系數校準。某些高水平的儀器，能夠自行校準自身電路工況漂移。
測量參數、測量條件變動：分析模型、樣品測量參數、測試環(huán)境（例如濕度、測試介質溫度等）都有可能影響測試數據。我們首先要保證測試的分析模型、樣品測量參數（特別是樣品折射率）選擇正確。測試環(huán)境的影響，視不同樣品和儀器工作環(huán)境不同，影響也差別很大，很難簡單舉例說明。需要具體情況具體分析。